利用红外光穿透物质时的吸收、反射、散射等效应实现非接触式测量薄膜类材料的厚度
特定波长(780~2500nm) 的近红外光会被材料分子中的C-H 键或H-O 键选择性吸收
光电探测器探测透过材料或照射到材料表面的近红外光被吸收量的多少
来推算出含H-O 键或C-H 键的材料面密度或水分含量。
近红外测厚仪具有无辐射危害、测量稳定性高、应用简便等特点。


应用领域：
塑料行业：塑料薄膜 塑料片材 泡沫塑料泡棉
纺织行业：无纺布 纸张 胶带 胶粘制品 标签等
复合材料行业：涂布 薄膜
橡胶板等行业：挤出制品 商标纸等

测量范围：水分：0~85%;面密度：0~800 g/m²; 
测量精度：水分±0.1%:面密度：±0.15g/m²  (根据测量对象而定);
扫描速度：50～500mm/s;   镜头清洁： 吹气清洁装置；
供电电压： AC220-1000W;   工作温度：0～50℃。