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霍克视觉Hawkvis——光谱共焦测厚系统

产品简介:

霍克光谱共焦测量具有高速度,高精度,高适应性等明显优势。
已被广泛应用于表面微观形状、厚度测量、位移测量、在线监控及过程控制等工业测量领域。
我公司开发的光谱共焦测量仪,在膜厚测量、超薄玻璃厚度测量、油墨/银浆厚度测量、三维轮廓测量、多层厚度测量等领域得到了成功的推广与应用。

霍克光谱共焦测量具有高速度,高精度,高适应性等明显优势。
已被广泛应用于表面微观形状、厚度测量、位移测量、在线监控及过程控制等工业测量领域。
我公司开发的光谱共焦测量仪。
在膜厚测量、超薄玻璃厚度测量、油墨/银浆厚度测量、三维轮廓测量、多层厚度测量等领域得到了成功的推广与应用。

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