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Hawkvis霍克视觉:光伏硅片缺陷检测系统HV-GF6101

产品简介:

       光伏上游硅片段工艺,由于生产过程中工艺或者外部因素原因,会导致硅片切割过程中产生:隐裂,破损,划伤等硅片的外部和内部缺陷,如果有缺陷的产品流向市场,会导致客诉,后道电池片端的品质问题,造成巨大的经济损失。

      霍克视觉Hawkvis针对这个领域,自主研发了硅片内部,外部缺陷CCD视觉检测系统,采用在线监测硅片内部缺陷的有效方式,采用实时在线检测方式,加快了整体检测效率;减少人工目视检查造成的误判和漏检,分段控制避免不良品流入后段影响整体良率。我企业品控,声誉做出贡献,并产生巨大的经济效益!

技术参数

项目 指标
产品类型 原硅片、PE前制程片
产品尺寸 ≤230mm
检测内容 隐裂、崩边缺角、针孔、黑点、片放反,线痕等
产能 >7200pcs/h
检测效率 <200ms/pcs(以210*210为例)
Uptime ≥99.9%,计算方式:[1-(维护+维修时间)/总时间]*100%
误检率 ≤0.03%(良率大于95%以上,计算方式:误检数量/检测总量,总量10000片以上)
漏检率 ≤0.01%(良率大于95%以上,计算方式:漏检数量/检测总量,总量10000片以上)
最高检测精度 70um
产品外观尺寸 标准L450(mm)*W150(mm)*H520(mm),高度需根据线体环境调节

产品特点

独立式隐裂碎片检测模块,可选配踢料结构。

全定制光学系统,质量可靠,成像质量更佳。

高效率AI算法,单片算法时间<200ms。

软件支持一拖二双通道同时运行,在降低成本的同时提高生产效率。

采用落地式龙门架方式,节省安装空间,宽度最低只需200mm空间。

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