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Hawkvis霍克视觉:TAC偏光膜表面缺陷检测系统

产品简介:

     TAC(三醋酸纤维薄膜)是用于制造偏光片的光学薄膜。液晶显示器生产过程中的重要材料,主要用于保护LCD偏光板。其组成和制造工艺非常复杂,尤其是生产过程中,由于工艺的不稳定以及外部原因,会导致材料出现很多缺陷,如:透光点,暗线,蹭伤,短白线,移动暗线,压点,异常点,粒子点,T折口印,粗气泡线,密集性TD线,暗印,胶粒点,脏污,脱条,斜纹,长暗印,白线,暗斑,晶点等数十种缺陷。     

     为了满足TAC上下游产品品控,霍克视觉特推出“TAC偏光片表面缺陷在线检测系统”,凭借先进的视觉成像技术、定制化打光方案以及人工智能算法,具备高速在线检测和强大的数据处理能力,能够做到自动识别和判断TAC偏光片表面的缺陷信息,为TAC偏光片的产品质量保驾护航!

      霍克视觉针对上述行业难题,在技术方案上融合了最新的图像处理算法和深度学习模型,创新性发布了基于TAC偏光片行业的新型视觉检测系统。该系统在成像方案上也同样具有创新性与独特性,通过对光源硬件设备的重大突破,解决了透明材料特殊缺陷检出效果不佳、无法稳定成像的行业难题,兼并了多达数十种缺陷类型。

      霍克视觉检测系统通过高精度、高分辨率的相机与图像处理技术,对TAC偏光膜的表面缺陷进行精细化检测和控制,确保产品质量的一致性和可靠性。在线显示材料表面缺陷信息(包含坐标、面积、尺寸、灰度等),并生成产品报表。通过建立反馈机制,助力企业及时调整生产工艺,不断地改进产品质量,逐步满足市场需求和客户反馈,形成可持续的良性工艺改善循环。

检测材料:TAC偏光膜
检测精度:0.02mm/piexl
检测宽幅:可定制

检测速度:≤50米/分钟

检测内容:透光点,暗线,蹭伤,短白线,移动暗线,压点,异常点,粒子点,T折口印,粗气泡线,密集性TD线,暗印,胶粒点,脏污,脱条,斜纹,长暗印,白线,暗斑,晶点等数十种缺陷。

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